2011年度サイエンス・マイスター副専攻春学期授業「高度科学技術入門」、「科学体験学習1」実施報告

サイエンス・マイスター育成プログラム
「サイエンス・マイスター副専攻」

2013年度実施授業
春学期:







秋学期:

科学技術英語 11月27日

講師:外国語教育センター フォードリー マイケル 先生


今日の講義では、TOF-SIMSについて書かれた英文を読みました。飛行時間型二次イオン質量分析法(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy)では、固体試料に一次イオンを照射することによりスパッタされた二次イオンを、飛行時間型の質量分析器を用いて分析することで、試料表面の構造解析を行うことができます。

学生の感想


大学の地下にあるTOF-SIMSを見たことがあり。いろいろな検出器のようなものがついていて難しそうな装置だと思っていたけれど、今日の講義でどのようなものか学んだので、実際に使ってみたいと思った。

(3年生:S君)



半導体産業で極微量の帯電体の同定と、薬など複雑な有機の分子構造を発見するための、二種類の使用用途について学びました。

(3年生:Sさん)



TOF-SIMSに感動した。SIMSを使えば薬などの複雑な分子も正確に分析できると思う。

(3年生:Sさん)



今までTOF-SIMSの具体的な原理と構造を知らなかったけど、今日の授業で少しずつ理解できたと思う。また、より深く知っていかないといけないと思った。広く知ることも重要だと思った。

(3年生:Sさん)



東海大学
社会の多様な場で活躍するサイエンス・マイスター育成プログラムは 文部科学省の公募事業で
ある「理数学生応援プロジェクト」で 東海大学が平成22年度に採択された育成プログラムです。
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