高度物性評価施設

高度物性評価施設

高度物性評価施設

研究支援・知的財産本部 技術共同管理室 高度物性評価施設


FE-TEM EDX
名称 透過型電子顕微鏡
Transmission Microscope
用途 微細組織の形態観察結晶構造解析
組成分析

FIB
名称 集束イオンビーム加工観察装置
Focused Ion Beam System
用途 ミクロンオーダーの加工
 

ESCA(XPS)
名称 走査型X線光電子分光分析装
Scanning X-ray Photoelectron Spectroscopy
用途 表面分析
化学結合状態分析

TOF-SIMS
名称 時間飛行型2次イオン質量分析装置
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer
用途 最表面分析
 

TF-XRD(MRD)
名称 薄膜材料結晶解析X線回折装置
Material Research Diffraction System
用途 薄膜結晶構造解析
 

XRD
名称 粉末X線回折装置
X-ray Diffraction
用途 結晶構造解析
 

ESR
名称 電子スピン共鳴分析装置
Electron Spin Resonance Spectrometer
用途 欠陥構造解析
構造決定 

FT-NMR
名称 核磁気共鳴分析装置
Nuclear Magnetic Resonance
用途 有機化合物の構造解析
構造決定 

SPM(AFM)
名称 走査型プローブ顕微鏡
Scanning Probe Microscope
用途 表面形態観察
 

IP-XRD
名称 イメジングプレト検出型線構造解析装置
X-Ray Diffract meter
用途 単結晶構造解析
 

XRF
名称 エネルギー分散型-蛍光X線分析装置
Energy Disputative X-Ray Fluorescence Spectrometer
用途 組成分析
 

ICP
名称 誘導結合プラズマ発光分光分析装置
Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometer
用途 元素分析
 

EPMA
名称 電子線マイクロアナライザ
Electron Probe Microanalyzer
用途 微小領域元素分析
 

WET-SEM EDX
名称 走査型電子顕微鏡
Scanning Electron Microscope
用途 表面形態観察
組成分析

FE-SEM EDX
名称 走査型電子顕微鏡
Scanning Electron Microscope
用途 表面形態観察
組成分析

試料調整装置
名称 高速カッター、中速カッター、ダイシングソウ、自動研磨機、電解研磨装置、蒸着装置、属顕微鏡、樹脂埋込み装置 他
用途 各種試料調整
 

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東海大学
社会の多様な場で活躍するサイエンス・マイスター育成プログラムは 文部科学省の公募事業で
ある「理数学生応援プロジェクト」で 東海大学が平成22年度に採択された育成プログラムです。
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